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反射率量測


當我們把待測物與全反射物體受到同一光源照射時,兩個光譜輻射能量的比值,此比值稱之為反射率,可以用以下公式表示:
Rλ = (φλ)/(φDλ)
φλ: 為由待測物體散發之光譜輻射能量
φDλ: 為由全反射發出之光譜輻射能量

應用

膜厚量測(鍍膜、汽車工業)、橢偏儀、皮膚或眼睛OCT、色彩偵測、寶石鑑定、紡織、印刷、染色、電鍍、塗裝等....

圖片

推薦機種

類別 型號 波長範圍 狹縫 解析度 訊雜比 曝光時間 動態範圍 熱穩定性
膜厚量測 SE2060 180-1100 nm 50 um 2.2 nm 500 5 ms-65 s 5000 0.039 nm/℃
OCT專用機 SE2080 790-1010 nm 25 um 0.5 nm 330 0.4ms-10ms 1600 0.027 nm/℃
手持式色差計、測色儀 UM2280 330-850 nm 25 um 5.5 nm 150 1 ms-65 s - -
SH2400 330-850 nm 25 um 5.5 nm 150 1 ms-65 s - -
SH1200 330-850 nm 25 um 5.5 nm 150 1 ms-65 s - -
太陽能板檢測 SE2060 180-1100 nm 50 um 2.2 nm 500 5 ms-65 s 5000 0.039 nm/℃
寶石鑑定 SE2020 400-500 nm 25 um 0.3 nm 250 1 ms-65 s 1300 0.007 nm/℃
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