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LED晶粒(封裝前)檢測設備

解決方案1. 動態熱平衡技術(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)

在LED燈具檢測設備中,光譜量測首重溫飄穩定性。因為環境溫溼度變動所造成的波長偏移,將影響從光譜計算而來的CIE色度與亮度(Y值)之穩定性和精度,進而大大降低LED燈具檢測參考價值。 OtO 光譜儀擁有非常優異的熱穩定性,其中溫飄穩定度足以媲美歐美大廠,僅有0.027nm/℃,Y值的變動僅±0.5%。我們獨有的動態熱平衡技術(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE),是在優化光學與機構系統設計下實現, 提供無溫控環境下之精確量測,取代過去龐大且昂貴的LED檢測設備,使得客戶得以在產線上廣佈檢測設備,全面確保產品品質。

解決方案2. 消雜散光演算法

對於LED晶粒(封裝前)檢測設備,OtO成功開發的「消雜散光演算法」,可在建立LED強度校正係數前先行扣除雜散光。雜散光經過該軟體校準後,與德國IS標準機比對晶粒亮度誤差僅R2=0.999以上,雜散光比例可從0.15%降至0.01%! 優異一致性與大幅提升量測準確度,更獲LED全球晶粒生產前三大廠採用。OtO致力於以卓越的技術,將光譜儀應用到高階LED檢測系統中。

 
解決方案3. OtO獨家8種高速曝光模式

根據不同應用及情境,OtO光譜儀擷取光譜的方式大致可分為:1.連續/不連續 ;2. 軟件/硬件觸發;3. 相同/不同積分時間,因而可組合出8種曝光模式,最大彈性滿足使用者的量測需求。 在LED工業線上檢測,使用者需先設定「不連續 - 硬件觸發 - 相同或不同積分時間 曝光模式」,以每一個LED燈作為硬件觸發信號,並事先在軟件上設定1000組曝光時間列表,便可依序得到這1000個LED燈的光譜數據,實現LED自動化線上檢測。

解決方案4. 可依需求擴充至8個GPIO!

推薦機種

類別 型號 傳感器類型 訊雜比 最短曝光時間 特性
中階LED檢測 SE2020 紫外加強前照式CCD 250 1ms 平價、最暢銷
中階LED檢測 SE2030 CMOS 330 0.21ms 平價、高速曝光需求
高階LED檢測 SE2060 紫外加强背照式CCD 500 5ms 紫外靈敏度極佳、低噪訊、優異的熱穩定性
高階LED檢測 SE2090 紫外加强背照式CCD 500 1.5ms 高速曝光、紫外靈敏度極佳、低噪訊、優異的熱穩定性

其他應用

LED白光(封裝後)檢測設備、太陽能板反射率量測設備、雷射波長校準、萤幕色差校正


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